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想要高效完成I-V特性測試,快來看看這個測試方案吧

更新時間:2021-09-28 點擊次數:1574

在各種應用的電流相對于電壓關系 (IV) 測量中,吉時利2400圖形化系列SMU儀器可以提供高效智能的解決方案。



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圖:由吉時利2400系列源表組成的I-V 測試系統


吉時利2400圖形化系列SMU儀器把源功能和測量功能緊密整合到一臺儀器中,提供四象限精密電壓和電流源/負載,實用性強。


吉時利2400圖形化系列SMU儀器采用用戶熟悉的圖形界面,操作簡便。比如基于圖標的菜單結構,不管用戶經驗是否豐富,使用起來都非常簡便。


應用舉例


01

功率半導體的 I-V 檢定

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圖:使用2450源表測試得出的I-V曲線


在碳化硅(SiC)和 氮化鎵(GaN)半導體設備開發的各階段, I-V 檢定起著重要的作用。首先,測試材料以確定適用性。再者,金氧半場效晶體管(MOSFET)等設備一經制造,必須在進行擊穿電壓、泄漏電流和斷開狀態電阻測試后才可將其安裝到電路板上。

覆蓋范圍廣,最高可達 1100V / 1A DC 20W

10 fA 測量分辨率

SCPI 和 TSP® 腳本編程模式

與 KickStart 軟件結合使用


02

光電池 I-V 檢定

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圖:光電池測試


Keithley 2450型或2460型SourceMeter SMU儀器,能在提供電流和電壓的同時進行測量, 可以輕松生成太陽能電池和電池板的I-V檢定。

0.012% 基本測量精度,具有 6? 位分辨率

全新 20mV 和 10nA 源/測量范圍提高了靈敏度

覆蓋范圍廣,最高可達 105V,7A DC/7A 脈沖,100W



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